Микроскоп Olympus BX 53P

Оптика UIS2 обеспечивает исключительную расширяемость

Максимизируя преимущества бесконечной коррекции, оптическая система UIS2 помогает предотвратить ухудшение характеристик оптического микроскопа и устраняет факторы увеличения, даже когда поляризационные элементы, такие как анализаторы, тонированные пластины или компенсаторы, вводятся в световой тракт. Микроскоп BX 53P также принимает промежуточные насадки, доступные для микроскопов серии BX3, а также для камер и систем обработки изображений.

Объектив Бертрана для коноскопических и ортоскопических наблюдений

С помощью коноскопического устройства наблюдения переключение между ортоскопическим и коноскопическим наблюдением осуществляется просто. Он фокусируется для просмотра четких интерференционных картин задней фокальной плоскости. Объектив Bertrand фокусируется для четкого просмотра интерференционных картин задней фокальной плоскости. Полевой упор позволяет последовательно получать резкие коноскопические изображения.

Широкий ассортимент компенсаторов и волнистых пластин

Для измерения двулучепреломления в тонких сечениях пород и минералов имеются шесть различных компенсаторов. Уровень замедления измерений колеблется от 0 до 20λ. Для более легкого измерения и высокого контраста изображения, Berek и Senarmont можно использовать компенсаторы, которые изменяют уровень замедления во всем поле зрения.

Минимальная оптическая деформация

Поляризованные световые цели сводят внутреннее напряжение к минимуму. Это означает более высокое значение EF, что приводит к отличной контрастности изображения.

Прочная и точная вращающаяся ступень

Вращательно-центрирующий механизм, прикрепленный к поворотной рампе, обеспечивает плавное вращение образца. Кроме того, на каждые 45 градусов имеется механизм остановки-щелчка для точного измерения. С опциональной двойной механической ступенью возможно осторожное движение по X-Y.