Москва, ул. Нагорная, 4а
Пн-Пт с 9:00 до 19:00
Заказать звонок Оставить заявку
keyboard_arrow_down

Микроскоп Olympus BX 53P

Производитель: Olympus

Цена: по запросу

Поляризационный микроскоп Olympus BX 53P обеспечивает превосходную производительность при использовании поляризованного света с использованием комбинации бесконечно скорректированной оптики UIS2 и отличительной оптической конструкции. Расширенная линейка совместимых компенсаторов делает микроскоп BX 53P достаточно универсальным для обработки наблюдений и измерений практически в любой области.

Другие товары:

  1. Микроскоп Olympus CX 23
  2. Микроскоп Olympus CX 33
  3. Микроскоп Olympus CX 43
  4. Микроскоп Olympus BX 46
  5. Микроскоп Olympus BX53
  6. Микроскоп Olympus BX 43
  7. Микроскоп Olympus BX 63
  8. Микроскоп Olympus BX 51WI
Оставить заявку
  • Описание
  • Характеристики
  • Брошюры
  • Видео

Оптика UIS2 обеспечивает исключительную расширяемость

Максимизируя преимущества бесконечной коррекции, оптическая система UIS2 помогает предотвратить ухудшение характеристик оптического микроскопа и устраняет факторы увеличения, даже когда поляризационные элементы, такие как анализаторы, тонированные пластины или компенсаторы, вводятся в световой тракт. Микроскоп BX 53P также принимает промежуточные насадки, доступные для микроскопов серии BX3, а также для камер и систем обработки изображений.

Зональная структура плагиоклаза в кварцевом диорите. * Весы указывают фактический размер образцов
Оптическая текстура MBBA * Весы указывают фактический размер образцов

Объектив Бертрана для коноскопических и ортопедических наблюдений

С помощью коноскопического устройства наблюдения переключение между ортоскопическим и коноскопическим наблюдением осуществляется просто. Он фокусируется для просмотра четких интерференционных картин задней фокальной плоскости. Объектив Bertrand фокусируется для четкого просмотра интерференционных картин задней фокальной плоскости. Полевой упор позволяет последовательно получать резкие коноскопические изображения.

Широкий ассортимент компенсаторов и волнистых пластин

Для измерения двулучепреломления в тонких сечениях пород и минералов имеются шесть различных компенсаторов. Уровень замедления измерений колеблется от 0 до 20λ. Для более легкого измерения и высокого контраста изображения, Berek и Senarmont можно использовать компенсаторы, которые изменяют уровень замедления во всем поле зрения.

Диапазон измерения компенсаторов

Минимальная оптическая деформация

Поляризованные световые цели сводят внутреннее напряжение к минимуму. Это означает более высокое значение EF, что приводит к отличной контрастности изображения.

Прочная и точная вращающаяся ступень

Вращательно-центрирующий механизм, прикрепленный к поворотной рампе, обеспечивает плавное вращение образца. Кроме того, на каждые 45 градусов имеется механизм остановки-щелчка для точного измерения. С опциональной двойной механической ступенью возможно осторожное движение по X-Y.

Применение Геология
Тип микроскопа Прямой
Диапазон увеличений 12,5-1500х
Методы контрастирования Светлое поле, темное поле, количественная поляризация, ДИК
Оптическая система UIS2
Осветители Белый LED-осветитель, 100Вт галогеновая лампа (стандарт), 100Вт Hg, 75Вт Xe, 50Вт галоидная лампы (опции)
Револьвер объективов Механический 4, 5 – позиционный с центрируемыми гнездами для светлого и темного поля
Предметные столики Вращающийся на 360 ° с угловой разбивкой, центрируемый
Возможность моторизации нет
Есть вопросы? Хотите сделать заказ или договориться о сотрудничестве? Отправьте нам заявку!

Я согласен на обработку персональных данных и ознакомлен с Пользовательским соглашением.